{"id":7992,"date":"2022-12-05T12:10:32","date_gmt":"2022-12-05T11:10:32","guid":{"rendered":"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/?p=7992"},"modified":"2025-10-07T10:39:17","modified_gmt":"2025-10-07T08:39:17","slug":"methods-for-photovoltaic-inspection","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection","title":{"rendered":"Methoden zur Photovoltaik-Inspektion"},"content":{"rendered":"<figure class=\"wp-block-image size-large is-style-default\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"872\" height=\"546\" src=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Fehler.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-8023\" srcset=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Fehler.jpg 872w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Fehler-300x188.jpg 300w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Fehler-768x481.jpg 768w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Fehler-18x12.jpg 18w\" sizes=\"auto, (max-width: 872px) 100vw, 872px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<p>So wie die Effizienz der Photovoltaik voranschreitet, werden auch ihre Pr\u00fcfmethoden immer besser. Immer mehr Arten von Fehlern k\u00f6nnen bei bestehenden Anlagen festgestellt werden. Heute m\u00f6chten wir Ihnen die besten auf dem Markt befindlichen Methoden f\u00fcr die Inspektion von Photovoltaikanlagen vorstellen und anschlie\u00dfend vergleichen.<\/p>\n\n\n\n<div id=\"ez-toc-container\" class=\"ez-toc-v2_0_82_2 counter-hierarchy ez-toc-counter ez-toc-grey ez-toc-container-direction\">\n<p class=\"ez-toc-title\" style=\"cursor:inherit\">Inhaltsverzeichnis<\/p>\n<label for=\"ez-toc-cssicon-toggle-item-69d4c34f2021f\" class=\"ez-toc-cssicon-toggle-label\"><span class=\"\"><span class=\"eztoc-hide\" style=\"display:none;\">Toggle<\/span><span class=\"ez-toc-icon-toggle-span\"><svg style=\"fill: #000000;color:#000000\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\" class=\"list-377408\" width=\"20px\" height=\"20px\" viewbox=\"0 0 24 24\" fill=\"none\"><path d=\"M6 6H4v2h2V6zm14 0H8v2h12V6zM4 11h2v2H4v-2zm16 0H8v2h12v-2zM4 16h2v2H4v-2zm16 0H8v2h12v-2z\" fill=\"currentColor\"><\/path><\/svg><svg style=\"fill: #000000;color:#000000\" class=\"arrow-unsorted-368013\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\" width=\"10px\" height=\"10px\" viewbox=\"0 0 24 24\" version=\"1.2\" baseprofile=\"tiny\"><path d=\"M18.2 9.3l-6.2-6.3-6.2 6.3c-.2.2-.3.4-.3.7s.1.5.3.7c.2.2.4.3.7.3h11c.3 0 .5-.1.7-.3.2-.2.3-.5.3-.7s-.1-.5-.3-.7zM5.8 14.7l6.2 6.3 6.2-6.3c.2-.2.3-.5.3-.7s-.1-.5-.3-.7c-.2-.2-.4-.3-.7-.3h-11c-.3 0-.5.1-.7.3-.2.2-.3.5-.3.7s.1.5.3.7z\"\/><\/svg><\/span><\/span><\/label><input type=\"checkbox\"  id=\"ez-toc-cssicon-toggle-item-69d4c34f2021f\" checked aria-label=\"Toggle\" \/><nav><ul class='ez-toc-list ez-toc-list-level-1' ><li class='ez-toc-page-1 ez-toc-heading-level-2'><a class=\"ez-toc-link ez-toc-heading-1\" href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection\/#Visual_inspection\" >Sichtpr\u00fcfung<\/a><\/li><li class='ez-toc-page-1 ez-toc-heading-level-2'><a class=\"ez-toc-link ez-toc-heading-2\" href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection\/#Thermal_imaging\" >Thermographie<\/a><\/li><li class='ez-toc-page-1 ez-toc-heading-level-2'><a class=\"ez-toc-link ez-toc-heading-3\" href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection\/#Electroluminescence\" >Elektrolumineszenz<\/a><\/li><li class='ez-toc-page-1 ez-toc-heading-level-2'><a class=\"ez-toc-link ez-toc-heading-4\" href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection\/#1-channel_IV_characteristic_measurement\" >1-Kanal-IV-Kennlinienmessung<\/a><\/li><li class='ez-toc-page-1 ez-toc-heading-level-2'><a class=\"ez-toc-link ez-toc-heading-5\" href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection\/#Multi-channel_IV_curve_measurement\" >Mehrkanalige IV-Kennlinienmessung<\/a><\/li><li class='ez-toc-page-1 ez-toc-heading-level-2'><a class=\"ez-toc-link ez-toc-heading-6\" href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/methods-for-photovoltaic-inspection\/#Comparison_of_the_individual_methods\" >Vergleich der einzelnen Methoden<\/a><\/li><\/ul><\/nav><\/div>\n<h2 class=\"has-text-align-center wp-block-heading\"><span class=\"ez-toc-section\" id=\"Visual_inspection\"><\/span>Sichtpr\u00fcfung<span class=\"ez-toc-section-end\"><\/span><\/h2>\n\n\n\n<p>Die Sichtpr\u00fcfung einer Solaranlage ist die einfachste Methode, um defekte PV-Module zu finden. Sie besteht im Wesentlichen darin, durch die Modulreihen zu gehen und festzustellen, ob sichtbare M\u00e4ngel vorhanden sind. Leider k\u00f6nnen mit dieser Methode viele Arten von Defekten nicht erkannt werden, so dass sie keine ausreichende Pr\u00fcfung darstellt.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"has-text-align-center wp-block-heading\"><span class=\"ez-toc-section\" id=\"Thermal_imaging\"><\/span>Thermographie<span class=\"ez-toc-section-end\"><\/span><\/h2>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Photovoltaik.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-7994\" width=\"538\" height=\"337\" srcset=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Photovoltaik.jpg 965w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Photovoltaik-300x188.jpg 300w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Photovoltaik-957x600.jpg 957w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Photovoltaik-768x481.jpg 768w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Photovoltaik-18x12.jpg 18w\" sizes=\"auto, (max-width: 538px) 100vw, 538px\" \/><figcaption>Hotspots <\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p class=\"has-text-align-left\">Die W\u00e4rmebildtechnik ist die bekannteste und am l\u00e4ngsten angewandte PV-Pr\u00fcfmethode in der Branche. Die W\u00e4rmebildtechnik basiert auf dem Ph\u00e4nomen des Temperaturanstiegs von Solarzellen beim Auftreten bestimmter Arten von Defekten. F\u00fcr die Thermografie wird eine Kamera mit einem speziellen Objektiv und einem W\u00e4rmesensor verwendet. Das gr\u00f6\u00dfte Problem bei der Thermografie ist, dass ein Temperaturunterschied erforderlich ist, um Defekte anzuzeigen, viele g\u00e4ngige Defektarten jedoch keinen Temperaturunterschied verursachen. Daher kann nur eine bestimmte Anzahl von Fehlern erkannt werden.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"has-text-align-center wp-block-heading\"><span class=\"ez-toc-section\" id=\"Electroluminescence\"><\/span>Elektrolumineszenz<span class=\"ez-toc-section-end\"><\/span><\/h2>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/ele.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-8002\" width=\"566\" height=\"250\" srcset=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/ele.png 593w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/ele-300x133.png 300w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/ele-18x8.png 18w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/ele-440x195.png 440w\" sizes=\"auto, (max-width: 566px) 100vw, 566px\" \/><figcaption>Gutes und defektes Modul auf Basis von Elektrolumineszenz<\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Elektrolumineszenz ist eine Methode, die h\u00e4ufig in Laboren eingesetzt wird. Bei dieser Methode wird die Funktion eines Solarmoduls umgedreht. Mit Hilfe eines Generators wird Strom durch das Modul oder den String geschickt, und die von den Modulen abgegebene Strahlung wird mit einer speziellen Kamera \u00fcberwacht. Die Elektrolumineszenz ist besonders n\u00fctzlich, um Risse in den Zellen aufzusp\u00fcren und deren Lage zu bestimmen. Andere Arten von Defekten, die erkannt werden k\u00f6nnen, sind PID, besch\u00e4digte Bypass-Dioden und in einigen F\u00e4llen Hotspots. Ein gro\u00dfer Nachteil der Elektrolumineszenz ist, dass diese Methode bisher nur nachts oder in einem Labor unter Ausschluss von Tageslicht durchgef\u00fchrt werden kann.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"has-text-align-center wp-block-heading\"><span class=\"ez-toc-section\" id=\"1-channel_IV_characteristic_measurement\"><\/span>1-Kanal-IV-Kennlinienmessung<span class=\"ez-toc-section-end\"><\/span><\/h2>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Unbenannt-2.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-8003\" width=\"412\" height=\"271\" srcset=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Unbenannt-2.png 342w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Unbenannt-2-300x198.png 300w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/Unbenannt-2-18x12.png 18w\" sizes=\"auto, (max-width: 412px) 100vw, 412px\" \/><figcaption>2 fehlerhafte IV-Kennlinien und die STC-Kennlinie<\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Die IV-Kennlinien-Messung ist eine inzwischen gut etablierte Methode zur PV-Pr\u00fcfung. Bei dieser Methode werden die aktuelle Modultemperatur, die Umgebungstemperatur und die Einstrahlung gemessen. Mit diesen Werten wird die erwartete Strom-Spannungs-Kurve erstellt und mit der aktuellen Strom-Spannungs-Kurve verglichen. Die Messung der IV-Kennlinie eignet sich besonders gut zur Erkennung vieler verschiedener Fehlertypen. Probleme bei dieser Methode sind der hohe Zeitaufwand und die nicht vorhandene Erkennung von Mismatch-Verlusten.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"has-text-align-center wp-block-heading\"><span class=\"ez-toc-section\" id=\"Multi-channel_IV_curve_measurement\"><\/span>Mehrkanalige IV-Kennlinienmessung<span class=\"ez-toc-section-end\"><\/span><\/h2>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/IV-1.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-8005\" width=\"-169\" height=\"-121\" srcset=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/IV-1.png 572w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/IV-1-300x216.png 300w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/10\/IV-1-18x12.png 18w\" sizes=\"(max-width: 572px) 100vw, 572px\" \/><figcaption>Fehlerhafte IV-Kennlinien<\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Die mehrkanalige IV-Kennlinienmessung funktioniert im Prinzip wie die einkanalige Kennlinienmessung, nur dass hier mehrere Strings gleichzeitig gemessen werden k\u00f6nnen. Das bedeutet, dass f\u00fcr die Messung weniger Zeit f\u00fcr die Durchf\u00fchrung ben\u00f6tigt wird. Einer der gr\u00f6\u00dften Vorteile dieser Methode ist jedoch, dass Mismatch-Verluste erkannt und als Zahlenwert angezeigt werden k\u00f6nnen. Dies ist besonders wichtig, da sich Mismatch-Verluste in vielen Anlagen als die gr\u00f6\u00dften Verluste erweisen. Es kann auch n\u00fctzlich sein, die Mismatch-Verluste w\u00e4hrend der Inbetriebnahmephase zu pr\u00fcfen, um die gew\u00fcnschte Leistung der Anlage zu verifizieren.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"has-text-align-center wp-block-heading\"><span class=\"ez-toc-section\" id=\"Comparison_of_the_individual_methods\"><\/span>Vergleich der einzelnen Methoden<span class=\"ez-toc-section-end\"><\/span><\/h2>\n\n\n\n<p>Zur besseren Veranschaulichung der verschiedenen Methoden und um die Vor- und Nachteile der einzelnen Methoden sichtbar zu machen, hier noch einmal ein Vergleich aller Pr\u00fcfmethoden.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"364\" src=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Vergleich-1024x364.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-8022\" srcset=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Vergleich-1024x364.jpg 1024w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Vergleich-300x107.jpg 300w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Vergleich-768x273.jpg 768w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Vergleich-18x6.jpg 18w, https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/Vergleich.jpg 1059w\" sizes=\"auto, (max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Wenn Sie mehr \u00fcber die Multikanal-IV-Methode wissen m\u00f6chten oder Informationen \u00fcber unser Multikanal-IV-Messger\u00e4t erhalten m\u00f6chten, schauen Sie sich bitte unsere <a href=\"https:\/\/www.neo-messtechnik.com\/de\/pv-master\/\">website<\/a> an oder kontaktieren Sie uns per Mail!<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>As the efficiency of photovoltaics advances, so do their inspection methods. 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